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更新日期:2024-05-21
簡要描述:
ceramicforum晶片內位錯檢測儀CS-1"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光(波長400~800nm)透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設備。
品牌 | 其他品牌 | 類型 | 無損傷 |
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產地 | 進口 |
ceramicforum晶片內位錯檢測儀CS-1
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光(波長400~800nm)透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設備。通過本設備可以實現快速、準確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。
ceramicforum晶片內位錯檢測儀CS-1
產品特長 |
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可測量材料 |
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測試效果不佳材料 | ?無可視光透視性材料:Si、GaAs等 |