日本電測densoku電阻式膜厚計RST-231

易于操作且時間短（0.7秒）
絕緣體上金屬膜的高度精確測量

?在0.7秒內測量絕緣層上的金屬膜
?使用個人計算機
易于查看的屏幕?易于校準和測量
?可立即查看直方圖，輪廓等
?異常值檢測功能

電阻式膜厚計RST-231的特點

在0.7秒內測量絕緣子上的金屬膜

它可以在短時間內（0.7秒）高精度測量絕緣體上的金屬膜（銅箔，印刷基板的鍍層等）。

易于閱讀的屏幕配置

屏幕大而明亮，使用個人計算機時易于查看。

易于校準和測量

易于校準和測量?？梢赃x擇兩個測量范圍（2至24μm，10至120μm）。

可以立即看到各種數(shù)字

經過統(tǒng)計處理后，您始終可以立即看到直方圖，配置文件和xR管理圖。

離群值檢測功能

如果設置薄膜厚度的上限和下限，則會通知您異常值。

支持更換每個探針

如果探頭的探頭損壞，可以為每個探頭更換它，并以低成本維修。

易于統(tǒng)計處理

可以保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，以后可以為測量數(shù)據(jù)設置統(tǒng)計項目以進行統(tǒng)計處理。

z多可以注冊40個頻道

由于z多可以注冊40個通道，因此可以根據(jù)用戶名和部件號??分別注冊來管理通道。

支持更換每個探針

使用4探針（開爾文型），即使在雙面板和多層板上也可以不受背面或內層的影響進行高精度測量。

日本電測densoku電阻式膜厚計RST-231

電阻式膜厚計RST-231的規(guī)格? 4探針探針規(guī)格