日本朝日分光光學(xué)膜厚儀OMD-1000產(chǎn)品介紹
這是一種分光膜厚監(jiān)測(cè)監(jiān)視器,可在氣相沉積過程中用單色光監(jiān)測(cè)基板上的光量變化。也用于本公司自有的薄膜蒸鍍裝置,作為蒸鍍部件制造商的專有技術(shù),作為膜厚監(jiān)測(cè)裝置完成。
以往機(jī)型的波長(zhǎng)選擇是濾光片型,但新產(chǎn)品搭載了本公司業(yè)績(jī)良好的分光器,現(xiàn)在可以選擇任意波長(zhǎng)。
膜厚變化信號(hào)由電壓輸出轉(zhuǎn)為與個(gè)人電腦兼容的數(shù)字輸出,控制機(jī)構(gòu)由手動(dòng)操作轉(zhuǎn)為個(gè)人電腦指令控制。此外,通過I/F直接與個(gè)人電腦連接,可以控制膜厚計(jì)主體,是一個(gè)非常緊湊的系統(tǒng),不需要像其他制造商那樣的控制器。
帶光譜儀的緊湊型設(shè)計(jì)
通過提高抗噪性實(shí)現(xiàn)高度可靠的膜厚監(jiān)測(cè)(靜電放電測(cè)試耐壓±5 kV)
可通過來自 PC 的命令進(jìn)行自動(dòng)控制
通過將控制器集成到接收器主體中實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比
模型 | OMD-1000 |
光譜儀類型 | Czerny Turner 型單色 |
波長(zhǎng)范圍 | 保證范圍:380 至 900 nm 可操作 范圍:350 至 1100 nm |
波長(zhǎng)分辨率 | 狹縫 0.5mm:4.2nm [546nm] 狹縫 1.0mm:8.3nm [546nm] |
波長(zhǎng)精度 | ± 1.0 納米 |
小波長(zhǎng)饋電 | 0.1nm |
外部控制 | RS232C |
外部輸出端子 | DC0-2V(滿量程) |
采樣間隔 | 100ms 或更多 |
靜電放電試驗(yàn)?zāi)蛪?/span> | ±5kV(實(shí)際8kV) |
光源 | 12V100W鹵素?zé)?/span> |
光強(qiáng)度穩(wěn)定性 | ±0.1%/小時(shí)以下 |
輸入電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
允許輸入電壓 | AC85-132V |
視在功率 | 340VA以下 |
使用環(huán)境 | 溫度10-35℃ 濕度20-80% |