不銹鋼中不同材料的區(qū)分示例分析
該設(shè)備由高壓發(fā)生器、分光頭、計(jì)數(shù)電路、使用液晶觸摸屏的CPU系統(tǒng)和樣品室組成。X 射線(xiàn)源是一種節(jié)能風(fēng)冷緊湊型 X 射線(xiàn)管。分光頭由雙曲面環(huán)形LiF和毛細(xì)管組成,具有可在CPU控制下更換每個(gè)激發(fā)源的結(jié)構(gòu)。光譜頭和樣品室由4μm厚的聚合物膜隔板隔開(kāi),頭內(nèi)部保持?jǐn)?shù)Pa的真空,樣品置于空氣中。結(jié)果,減少了由空氣引起的散射輻射,并且可以容易地進(jìn)行測(cè)量。X射線(xiàn)探測(cè)器采用高分辨率硅漂移探測(cè)器(SDD),無(wú)需液氮,計(jì)數(shù)率高。探測(cè)器元件采用兩級(jí)珀耳帖元件冷卻,冷卻溫度控制在-20±0.5℃。計(jì)數(shù)電路使用緊湊型數(shù)字信號(hào)處理器 (DSP)。CPU部分采用液晶觸摸屏,無(wú)需安裝空間,操作簡(jiǎn)單。為了用環(huán)形單色儀對(duì)初級(jí) X 射線(xiàn) Pd-Kα 射線(xiàn)進(jìn)行單色化和聚焦,需要以良好的激發(fā)效率和良好的 P/B 比分析過(guò)渡金屬、Mo 和 Pb 等。
X射線(xiàn)管:風(fēng)冷鈀靶
kV-mA:40-1(Pd-Kα單色光束)
測(cè)量時(shí)間:100秒
檢測(cè)器:SDD(元件冷卻:-20°C,Mn-Kα射線(xiàn)能量分辨率:160 eV以下)
在鋼種鑒別的情況下,由于樣品測(cè)量表面并不總是平坦的,因此通過(guò)取樣品的一次 X 射線(xiàn)與散射 X 射線(xiàn)的比率進(jìn)行校正。首先分析鑄錠標(biāo)準(zhǔn)樣品的平面。Cr-Kα線(xiàn)、Ni-Kα線(xiàn)和Mo-Kα線(xiàn)用于測(cè)量光譜。圖1-1為各光譜線(xiàn)的校準(zhǔn)曲線(xiàn)與散射X射線(xiàn)的比值校準(zhǔn)曲線(xiàn)。兩條校準(zhǔn)曲線(xiàn)獲得了幾乎相同的結(jié)果。圖1-2顯示了樣品圓柱面(側(cè)面,直徑約40mmφ)的測(cè)量結(jié)果,結(jié)果與平面幾乎相同。接下來(lái),1-3 顯示了使用 Cr-Kα 和 Mo-Kα 射線(xiàn)研究距離特性的結(jié)果。X 射線(xiàn)分析值在距參考物 1、2 和 3 mm 距離處與散射 X 射線(xiàn)的強(qiáng)度比相比,Cr 的最大誤差為 1.41wt%,Mo 的最大誤差為 0.06wt%位置。Cr 和 Mo 的檢測(cè)下限分別為 0.0063wt% 和 0.0009wt%。
由以上結(jié)果可知,通過(guò)使用OURSTEX100F獲取散射X射線(xiàn)的強(qiáng)度比,能夠以充分的精度獲得鋼種判別。這被認(rèn)為是由于環(huán)形光譜儀將來(lái)自 X 射線(xiàn)管的初級(jí) X 射線(xiàn)會(huì)聚到樣品表面上 2-3 mmφ 的效果。預(yù)計(jì)該緊湊型裝置將在未來(lái)有效地用作簡(jiǎn)單鋼型鑒別的異物鑒別裝置。
能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀“OURSTEX100FA"